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光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備

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  • 汽車零部件外觀缺陷光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備
    產(chǎn)品描述   汽車零部件外觀缺陷光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備主要用于檢測(cè)換向器、圓盤(pán)、齒圈、氣門(mén)座圈、含油軸承、活塞銷、球軸承等中小型汽車零部件,可檢測(cè)工件內(nèi)外壁缺陷、上下端面的崩損
    04月22日
  • 光學(xué)自動(dòng)篩選機(jī)-表面缺陷檢測(cè)-視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備廠商
    光學(xué)自動(dòng)篩選機(jī)-表面缺陷檢測(cè)-視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備廠商設(shè)備介紹設(shè)備作用:代替人工單一重復(fù)性的檢測(cè)工作,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行全自動(dòng)全檢,提高檢測(cè)效率,檢測(cè)過(guò)程的準(zhǔn)確性,提升企業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力。..
    08月12日
  • 雙面AOI自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備
    自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)與特點(diǎn): 連線AOI系統(tǒng),生產(chǎn)線多工位適用,方便靈活配置; 可同時(shí)檢測(cè)正反兩面; 檢測(cè)精度可達(dá)0.1mm; 檢測(cè)速度小于100ms; 系統(tǒng)可以檢測(cè)是否缺料及傾..
    12月23日
  • 自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備CCD光學(xué)篩選機(jī)檢測(cè)產(chǎn)品外觀尺寸不良
    雙軌光學(xué)篩選機(jī),檢測(cè)產(chǎn)品外觀尺寸不良,自動(dòng)分揀不良品,
    05月21日
  • 振華興VCTA-A410自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀AOI光學(xué)檢測(cè)儀振華興AOI
    振華興VCTA-A410AOI機(jī)械系統(tǒng): PCB尺寸: 25MM×25MM毫米~340MM×480MM(可依據(jù)客戶具體要求訂制更大規(guī)格) PCB厚度: 0.5MM~2.5MM PCB翹曲度: <2MM( 有夾具輔助矯正變形 )( 特殊要求..
    05月24日
  • 神舟阿立得ALD510自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀AOI阿立得510
    神州AOI ALD510性能特點(diǎn) 神舟阿立得 ALD510自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀AOI 阿立得510 AOI功能參數(shù) Functional Specifications 檢測(cè)的電路板 SMT錫膏印刷后及回焊爐前和回焊爐后電路板檢查 檢測(cè)方法 ..
    05月24日
  • 光學(xué)膠激光切割機(jī)半切/半切精度高
    用途:用于觸摸屏切割 應(yīng)用材料:光學(xué)膠切割 主要工藝:激光切割 切割效果:光學(xué)膠切割,光學(xué)膠激光切割機(jī)半切精度高,切割精度+/-0.02mm,無(wú)熔邊、翻邊、發(fā)黃、折邊,切面光滑。 品質(zhì)..
    03月15日
  • 光學(xué)球罩
    光學(xué)球罩整流罩產(chǎn)品特性:光學(xué)球罩是具有兩個(gè)球面并且同心的窗口, 可以理解為一個(gè)彎月的光學(xué)窗口片。理想的光學(xué)球罩,凸半徑等于厚度與凹半徑之和,兩個(gè)表面不同點(diǎn)的厚度變化量是衡量球罩精..
    09月30日
  • 安捷倫86141B光學(xué)分析儀
    安捷倫86141B光學(xué)分析儀86141B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 長(zhǎng)期租賃Agilent安捷倫86140B光學(xué)分析儀
    安捷倫86140B光學(xué)分析儀86140B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 安捷倫86142B光學(xué)分析儀出售回收
    安捷倫86142B光學(xué)分析儀600nm至1700nm內(nèi)置測(cè)試應(yīng)用程序10 pm 波長(zhǎng)精度快速雙掃法涵蓋 S、C 和 L 波段Keysight Agilent HP 86142B 臺(tái)式光譜分析儀 (OSA) 適合功率和波長(zhǎng)精度、動(dòng)態(tài)范圍和低偏振..
    09月30日
  • 美國(guó)進(jìn)口安捷倫86146B光學(xué)分析儀
    安捷倫86146B光學(xué)分析儀86146B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 安捷倫86145B光學(xué)分析儀參數(shù)說(shuō)明
    安捷倫86145B光學(xué)分析儀86145B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 技術(shù)支持Agilent安捷倫86140B光學(xué)分析儀
    安捷倫86140B光學(xué)分析儀86140B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 回收出售AGilent安捷倫86142B光學(xué)分析儀
    安捷倫86142B光學(xué)分析儀600nm至1700nm內(nèi)置測(cè)試應(yīng)用程序10 pm 波長(zhǎng)精度快速雙掃法涵蓋 S、C 和 L 波段Keysight Agilent HP 86142B 臺(tái)式光譜分析儀 (OSA) 適合功率和波長(zhǎng)精度、動(dòng)態(tài)范圍和低偏振..
    09月30日
  • 安捷倫86146B光學(xué)分析儀
    安捷倫86146B光學(xué)分析儀86146B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • Agilent86140B二手回收安捷倫86140B光學(xué)分析儀
    86140B 安捷倫光學(xué)分析儀86140B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 租售回收Agilent86143B光學(xué)分析儀
    86143B 安捷倫光學(xué)分析儀86143B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 可租可售二手86142B安捷倫86142B光學(xué)分析儀
    86142B 安捷倫光學(xué)分析儀86142B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
  • 安捷倫86141B光學(xué)分析儀Agilent86141B
    86141B 安捷倫光學(xué)分析儀86141B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量..
    09月30日
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